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反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)

產(chǎn)品時間：2024-06-01

訪問次數(shù)：575

簡要描述：

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT
主要特點
集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準維護時間記錄的相機測量位置
放個樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡單

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詳細介紹

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)。可同時測量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無需復(fù)雜的設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。

主要特點

集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時測量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準維護時間記錄的相機測量位置
放個樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡單

主要應(yīng)用

平板光學(xué)鍍膜薄膜太陽能電池

聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜

玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。

CdTe、CIGS、非晶硅等

產(chǎn)品陣容

模型

F10-RT

-紫外線

F10-RT

-近紅外

F10-RT

　-近紅外

F10-RT

　-UVX

測量波長

范圍

膜厚測量

范圍

性

光源


190 – 1100nm	380 – 1050nm	950 – 1700nm	380 – 1050nm	380 – 1050nm
1nm – 40μm	15nm – 70μm	100nm – 150μm	15nm – 150μm	1nm – 150μm
± 0.2% 薄膜厚度		± 0.4% 薄膜厚度	± 0.2% 薄膜厚度
1納米	2納米	3納米	2納米	1納米
氘· 鹵素	鹵素			氘· 鹵素

測量示例

平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測定例
同時測定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時分析薄膜厚度、折射率等。

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