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日立熒光分布成像系統(tǒng)

產(chǎn)品時間:2024-06-02

訪問次數(shù):1022

簡要描述:

日立熒光分布成像系統(tǒng)
1. 可以測定樣品的光譜數(shù)據(jù)(反射光、熒光特性)
在不同光源條件下(白光和單色光)拍攝樣品圖像,(區(qū)域:Φ20mm、空間分辨率:0.1 mm左右、波長范圍:360-700nm),同時利用的光譜算法,分別顯示熒光圖像和反射圖像, 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息(熒光光譜、反射光譜)

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一、熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)簡介

       作為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng),這是創(chuàng)將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的結(jié)合,融合了智能算法的技術(shù)。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。
將它配置到熒光分光光度計(jì)中,改變了常規(guī)熒光光度計(jì)只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現(xiàn)狀,可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息,十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領(lǐng)域。


 熒光分布成像系統(tǒng)結(jié)構(gòu).png

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計(jì)的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球漫反射后均勻照射到樣品,利用熒光光度計(jì)標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,并利用*的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光成分圖像。

    二、  熒光分布成像系統(tǒng)特點(diǎn):

    1. 可以測定樣品的光譜數(shù)據(jù)(反射光、熒光特性)

不同光源條件下(白光和單色光)拍攝樣品圖像,(區(qū)域:Φ20mm、空間分辨率:0.1 mm左右、波長范圍:360-700nm),同時利用的光譜算法,分別顯示熒光圖像和反射圖像根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息(熒光光譜、反射光譜)


熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)

軟件界面.png


2.  樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試

樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!

豐富的樣品支架

樣品支架.png

支持測量的校正工具

標(biāo)準(zhǔn)和樣品.png


熒光分布成像系統(tǒng)是一種的技術(shù)新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計(jì)的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球漫反射后均勻照射到樣品,利用熒光光度計(jì)標(biāo)配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像,并利用*的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光成分圖像。

日立科學(xué)儀器(北京)有限公司為您提供日立熒光分布成像系統(tǒng)EEM View的參數(shù)、價格、型號、原理等信息,日立熒光分布成像系統(tǒng)EEM View產(chǎn)地為日本、品牌為日立,型號為EEM View,價格為面議,更多相關(guān)信息可來咨詢,公司客服電話7*24小時為您服務(wù)


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