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日立掃描探針顯微鏡控制器

產(chǎn)品時(shí)間:2024-06-02

訪問(wèn)次數(shù):2432

簡(jiǎn)要描述:

日立掃描探針顯微鏡控制器
此系列開(kāi)發(fā)出一種的處理方法,可預(yù)測(cè)并調(diào)整懸臂的振動(dòng)振幅、動(dòng)作頻率等主要參數(shù)。其通過(guò)對(duì)樣品表面的形狀、掃描區(qū)域、使用的懸臂及掃描儀等的綜合評(píng)價(jià),高效率、高精度地調(diào)整成合適的測(cè)量條件。
· 通過(guò)新增加了振幅調(diào)整功能的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能(RealTune®II),可實(shí)現(xiàn)一鍵(One Click)測(cè)量。原來(lái)需要熟練操作的測(cè)量,現(xiàn)在沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的操作

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日立掃描探針顯微鏡控制器

標(biāo)準(zhǔn)配備改良過(guò)的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能,以及簡(jiǎn)單明了的圖形用戶界面。因此,即使是剛剛接觸SPM的人,或者測(cè)量某種的樣品時(shí),也能取得具有較高再現(xiàn)性的數(shù)據(jù)。

·         圖標(biāo)說(shuō)明

*RealTune是日立科學(xué)股份公司在日本的注冊(cè)商標(biāo)。


·         特點(diǎn)

1. RealTune®II 的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能

·         提升的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能!
此系列開(kāi)發(fā)出一種的處理方法,可預(yù)測(cè)并調(diào)整懸臂的振動(dòng)振幅、動(dòng)作頻率等主要參數(shù)。其通過(guò)對(duì)樣品表面的形狀、掃描區(qū)域、使用的懸臂及掃描儀等的綜合評(píng)價(jià),高效率、高精度地調(diào)整成合適的測(cè)量條件。

·         通過(guò)新增加了振幅調(diào)整功能的測(cè)量參數(shù)自動(dòng)調(diào)整功能(RealTune®II),可實(shí)現(xiàn)一鍵(One Click)測(cè)量。原來(lái)需要熟練操作的測(cè)量,現(xiàn)在沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的操作員也可以簡(jiǎn)單地操作。

·         也可用于很難調(diào)整參數(shù)的樣品。

【實(shí)例1】纖維狀的碳納米管結(jié)構(gòu)體(壁虎膠帶)
【樣品提供:日東電工股份公司】

此前的方法
此種樣品需要對(duì)參數(shù)進(jìn)行精細(xì)的調(diào)整,操作困難,并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。

新處理方法
自動(dòng)調(diào)整成合適的參數(shù),可在復(fù)雜的纖維結(jié)構(gòu)不變形的前提下進(jìn)行測(cè)量。


【實(shí)例2】用于有機(jī)薄膜晶體管的多結(jié)晶薄膜(并五苯多結(jié)晶薄膜)
【樣品提供:神戶大學(xué)北村研究室】

此前的方法
此款樣品表面容易損壞,易產(chǎn)生皺痕、step的輪廓也不明確。

新處理方法
自動(dòng)調(diào)整為合適的參數(shù),穩(wěn)定地測(cè)量分子級(jí)別上的step結(jié)構(gòu)。

2. 新圖形用戶界面(Graphical Use Interface)

簡(jiǎn)單菜單

·         簡(jiǎn)單明了易懂的圖標(biāo)、嚴(yán)格篩選的顯示信息,無(wú)論是無(wú)經(jīng)驗(yàn)者還是熟練操作員,都能夠方便地操作!

·         可通過(guò)選項(xiàng)卡在測(cè)量及分析作業(yè)領(lǐng)域之間切換,畫(huà)面簡(jiǎn)潔明了??捎行У貜V泛使用。

3. 3D覆蓋功能

能夠?qū)悠沸螤顖D像及物理性質(zhì)圖像重合起來(lái)顯示,并能進(jìn)一步構(gòu)畫(huà)出3D圖像,可以通過(guò)視覺(jué)形象地感受樣品的物理性質(zhì)的分布。

4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能

具備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣化的分析功能。

5. 小型化設(shè)計(jì)

外形更輕便、更小型化,適合各種放置場(chǎng)所。
220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg

 

日立科學(xué)儀器(北京)有限公司為您提供日立掃描探針顯微鏡控制器的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息,日立掃描探針顯微鏡控制器產(chǎn)地為日本、品牌為日立,型號(hào)為AFM5000II/RealTune®II,價(jià)格為面議,更多相關(guān)信息可,公司客服電話7*24小時(shí)為您服務(wù)


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